出展の見どころ

Yonata Electronics（株）
	光通信・要素技術&応用EXPO　 No. K-14

〒103-0026

東京都中央区日本橋兜町17番1号日本橋ロイヤルプラザ

URL：https://yonata.co.jp/

● 担当

営業部斉瑾

TEL：08037077548　FAX：

● 出展の見どころ

PXIe/ベンチトップSMUと1.6T対応DCA/BERTを実機デモ展示。LDテスト（Chip Tester：ダイ、CoC Tester：CoC、CoCバーンイン）をはじめ、CPO（PIC/OEハンドラ）、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRまで用途別に提案。3.2Tロードマップも紹介。

● 出展製品

通信デモ
高精度ベンチトップSMU「B2031/B3031」

B2031 / B3031はコンパクトで低価格に優れた4チャンネル/8チャンネルのデスクトップ型精密ソース/メジャーユニットです。電圧と電流を同時に出力・測定する能力を持ち、最大±30V、±500mAの出力が可能です。優れたカラーLCDグラフィカルユーザーインターフェースを搭載し、従来のSMU SCPIコマンドもサポートしているため、既存のテストコードからの移行が迅速かつ容易に行えます。

通信新製品デモ
PCIe 高速ケーブルBERT「B6064C」

B6064CはPCIe6.0およびそれ以前の規格に準拠した高速ケーブルBERT試験に対応する、高密度で汎用性の高いソリューションです。最大64レーン128差動ペアの高密度試験、自動リンクトレーニング、最大40dBの挿入損失補償機能を備え、高速PCIeケーブルの研究開発、製造試験に最適です。データセンターのインターコネクトにおける包括的なシステムレベルのシグナルインテグリティ検証を可能にします。

通信デモ
1.6T ビットエラーレートテスタ「B3224」

B3224は、物理層の特性評価と一貫性試験のための高性能ビットエラーレートテスタ（BERT）です。PAM4/NRZ信号に対応し、1.6TBASE/CEI-224G規格をカバーします。優れた信号品質、豊富な機能、柔軟な試験モード（統合MCBまたはリモートヘッド）により、高速シリアル回路製品の研究開発から製造試験まで、強力な性能と柔軟性を提供します。

通信デモ
65 GHz サンプリングオシロスコープ「DCA6065」

DCA6065は1.6T/800G/400Gの超高速光信号のアイパターン試験をサポートする高性能65GHzサンプリングオシロスコープです。65GHzの光ポート帯域幅を持ち、1/2/4チャンネル構成が選択可能です。最大64タップのTDECQのFFEを内蔵しています。柔軟なネットワーク構成をサポートし、120 GBaudのCDRを内蔵、または独立したCDRモジュールをオプションで追加できます。

通信新製品
ウェハ受入(WAT)並列パラメトリックテスタ「PPT8200」

PPT8200はテスト効率を最適化するために設計された「Per-Pin」アーキテクチャを採用した高性能パラレル・パラメトリック・テストシステムです。各ピンにSMUとPGUを搭載し、従来のシリアルテスタと比較して50%以上高いスループットを実現します。最新のソフトウェア環境により、テストプログラムの開発を簡素化し、量産立ち上げを加速させます。高い信頼性とコストを両立したソリューションを提供します。

通信デモ
高精度ベンチトップSMU「B0201/B1201」

B0201/B1201はコンパクトでコスト効率の高いシングル/デュアルチャンネルのベンチトップ型ソース/メジャーユニットであり、電圧と電流を同時に出力・測定することができます。手頃な価格で優れた性能を提供し、広い電圧源（±200V）と電流源（±1A DC、±3Aパルス）機能、6.5桁の表示（最小1fA/100nV）、そして卓越したカラーLCDグラフィカルユーザーインターフェースを備えています。

通信新製品
SiPhウェーハテストシステム「SWT5100」

sCT9002はシリコンフォトニクスウェーハの自動テストを行うための高性能なウェーハレベルテストシステムです。8インチから12インチまでのウェーハに対応し、完全に自動化されたテストプロセスを提供します。25℃から150℃までの温度制御を搭載し、光、DC、RFテストをサポートします。GC結合およびEC結合の両方に対応し、単一ファイバーからファイバーアレイまで柔軟に構成可能です。

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