出展の見どころ
キヤノンマーケティングジャパン(株) | ||
レンズ設計・製造展 No. P-22 |
〒108-8011 | ||||||||||||||||
東京都港区港南2-13-29 | ||||||||||||||||
URL:http://canon.jp/ | ||||||||||||||||
● 担当 | ||||||||||||||||
産業機器機事業部 第二営業本部 | ||||||||||||||||
TEL:03-3740-3334 FAX:03-3740-3346 | ||||||||||||||||
● 出展の見どころ | ||||||||||||||||
①米国アプレ社の"SCI光源" + "Sシリーズ干渉計"の実機展示
S100|4MP 干渉計とSCI光源で、平行平面板の表面測定及び内部干渉縞(表裏面)の測定を実演。 ②独国GBS metrology社の非接触3次元形状測定機/白色干渉顕微鏡"smartWLI extended range"の実機展示 金属加工面の表面性状の計測を実演。 ③キヤノン株式会社のデジタルガルバノスキャナーの実機展示 |
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● 出展製品 | ||||||||||||||||
デモ Äpre社 干渉計 Äシリーズ/ Sシリーズ 「厳格なスペック管理で製造されたハイエンドなレーザー干渉計」 主な特長 ・直接カメラに干渉縞を結像することで得られる高解像度 ・CNC補正研磨で効果を発揮する少ない画像歪み(ディストーション) ・計測面が蹴斜している場合に発生するリトレースエラーを最小化 ・He-Ne光源に加えて、SCI光源、波長変調光源、特殊光源も追加可能 ・直観的で視認性の高いソフトウエア(従来のソフトウエアとの互換性あり) |
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デモ Äpre社 SpectrÄ (SCI光源、周波数制御干渉法) Äシリーズ/Sシリーズ干渉計のオプション光源:SCI光源 「多重干渉が発生するパーツ、薄い透明基板に新しい計測ソリューション」 優位性 ・レーザー光源では多重干渉が発生するパーツで、任の距離の干渉縞を生成 ・厚さ<100μmの基板の内部干渉縞(表裏面)計測 ・光源のスペクトル制御で位相シフト測定 主な仕様 ・最小光学距離:150μm ・最大光学距離:2000mm ・可干渉深度:150μmから1mm |
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自動車医療通信 デモ GBS metrology社 3次元光学プロファイラー smartWLI シリーズ 「高速カメラと大規模並列データ処理によるハイエンド白色干渉計」 主な特徴 ・三次元表面性状の国際規格ISO25178-604に準拠 ・GPGPUを使用した超並列/超高速処理で測定時間と解像度を強化 ・低ノイズで超平滑面の計測に有効なHD-EPSIアルゴリズムを搭載 ・超高速プレスキャン機能を活用した”うねりのある超平滑面"の高速計測 ・高精度なステッチングを実現するアルゴリズム |
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自動車 新製品 【参考出展】高応答デジタルガルバノモータ 【参考出展】 応答性:60%UP ※同条件におけるGM-2010との比較 応答性を大幅に向上した新シリーズ 高い分解能を保持したまま応答性の向上を実現 想定アプリケーション ・レーザー穴あけ ・レーザーマーキング ・微細加工 等 |
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自動車 新製品 【参考出展】大口径レーザ光向け デジタルガルバノモータ 【参考出展】 最大レーザ入光サイズ:φ40mm 最大速度:75%UP ※同条件におけるGM-2020との比較 高精度/高分解能を誇るGM-2000シリーズに新たなモータをラインアップ デジタル式の高精度を実現しながら、大口径レーザ光に対応 熱的安定性と微小レーザスポットによる高精度加工を実現 想定アプリケーション ・3Dプリンタ ・レーザー溶接 ・微細加工 等 |
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