出展の見どころ
中央精機(株) | ||
レンズ設計・製造展 No. L-21 |
〒101-0063 | ||||||||||||||||
東京都千代田区神田淡路町1-5 | ||||||||||||||||
URL:http://www.chuo.co.jp/ | ||||||||||||||||
● 担当 | ||||||||||||||||
営業本部 松本 宏理 | ||||||||||||||||
TEL:03-3257-1911 FAX:03-3257-1915 | ||||||||||||||||
● 出展の見どころ | ||||||||||||||||
弊社では、非球面レンズを透過した光を干渉計測することで、そのレンズがもつ収差などを正しく計測できる『非球面レンズ透過波面測定装置』と『自動ステージ』でのデモンストレーションをお見せします。ぜひ、会場で一度ご覧ください。また、微細な調整と確実な位置決め固定を同時に実現したフィックスステージと、スマートフォンを工業顕微鏡(ツールスコープ)へ簡単・確実に固定し、手軽に観察システムを構築可能なスマホアダプタも実機出展いたします。
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● 出展製品 | ||||||||||||||||
新製品 デモ 非球面レンズ透過波面測定装置 非球面レンズの高速透過波面測定機 ■MTF計測・形状測定だけでは分からない不良品を判別 ■1秒/個の高速評価 ※実測時間 ■不良原因の特定が可能 本展示会では、㈱清原光学、㈱菱光社と共同出展しております。 |
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新製品 デモ ポイントオートフォーカス顕微鏡 高感度AFセンサの採用によりあらゆる表面にジャストフォーカス 特長 ■反射率0.5%のレンズから90%のミラー表面まで、ワーク表面の反射率の影響を受けません。 ■コントラストが低い表面にもAF出来ます。 ■高速サーボ制御により、表面の凹凸に自動追従します。 ■AF光学系と観察光学系が独立している為に、様々なカメラや計測器の取付が可能です。 ■焦点オフセット光学系により、表面から一定深さの内部観察が可能です。 ■傾斜面の追従性が高く、球面の斜面にもAF出来ます。 |
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デモ Free Form Vision 自由曲面評価システム 結像する自由曲面に対してFree Form Visionは短時間(約1分)で自由曲面の検査を可能としました ■面測定 2次元の面測定(2次元配列計測)をスキャンなしで行います。面情報が含まれた画像を生成し、その画像を解析することで2次元の面情報がスキャンなしで同時に得られ、良否判定までの処理が可能です。 ■直感性 図面通りに作られたサンプルなら、測定画像がきれいな正方格子画像になります。製品が理想的な形状からずれると格子形状が歪みます。基準位置が予め判っている(正方格子点位置)ので解析も行い易いです。 |
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デモ フィックスステージ 「ワークの調整後にクランプなしでも動かないようにならないものか…。」このようなニーズにお応えしました。 フィックスステージは、クランプ不要で外力によるずれやバックラッシが発生しない新発想のステージです。 |
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お問合せメールを送信いたしました。
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