出展の見どころ
| Emerson(日本NI) | ||
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セミナー新卒採用 レーザーEXPO No. |
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| 〒105-0012 | ||||||||||||||||
| 東京都港区芝大門1-9-9 8F | ||||||||||||||||
| URL:https://www.ni.com/ja.html | ||||||||||||||||
| ● 担当 | ||||||||||||||||
| エンタープライズアカウント事業部 大山 貴之 | ||||||||||||||||
| TEL:0120-527196 FAX:03-5472-2977 | ||||||||||||||||
| ● 出展の見どころ | ||||||||||||||||
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Emerson(日本NI)ブースでは、次世代光電融合デバイスのテスト効率を劇的に進化させるPXIソリューションを展示します。12ch SMUを用いたMZM等の特性評価デモを通じ、多チャンネル計測の同期や高速化、テストコスト削減の具体策をご紹介。さらに、LabVIEWやTestStandを軸とした統合ソフトウェアワークフローによる、光学系テストベンチの効率的な構築手法もご提案します。
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| ● 出展製品 | ||||||||||||||||
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新製品 デモ 光電融合シリコンフォトニクスデバイステスタ 光集積デバイスから光電融合デバイスまで、パラメトリックテスト、モジュールテストにまで拡張可能なプラットフォームPXIのデモ展示をおこなっております。 |
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EMLテスタ EML各コンポーネントの制御と測定を高速におこなうことができるSourceAdapt機能を搭載したSMUを展示しております。 |
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LIVテスタ/uLEDテスタ LDやLEDを高速駆動するSMUを展示しております。 |
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VCSEL測定ユニット VCSELのパルス駆動と測定をおこなう、VCSEL測定ユニットを提供致します。 |
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WLR信頼性試験装置 WLR Test Softwareには、JEDECの標準テスト方法に準拠したソフトフロントパネルが含まれており、WLRストレステスト (HCI、NBTI/BTI、TDDB、Jramp、Vrampなど) に利用可能です。また、業界標準のテストシーケンサ、WLRストレス用に事前に作成されたテストステップテンプレート、抽象化された並列処理およびマルチスレッド処理機能が含まれています。 |
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| ● ブース訪問予約/お問合せフォーム (光関連業界に関するお問合せ以外のご利用はご遠慮ください) | ||||||||||||||||
お問合せメールを送信いたしました。
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